Detektor verbessert Auflösung von Niederenergie-Elektronenmikroskopen. Ein neuer Detektor namens Medipix2 soll die Auflösung von sogenannten Niederenergie-Elektronenmikroskopen (LEEM) um das 2,5fache verbessern. Damit soll sich das Wachstum sehr dünner Schichten, wie etwa Graphen, mitlaufend beobachten lassen.