Korrektheit von neuen Schaltkreis-Entwürfen online testen

Deutschland vernetzt Mikrochip-Forscher der Welt

Mit dem BDD-Portal bieten das Institut für Telematik und der Informatik-Fachbereich der Uni-Trier nun eine Online-Plattform, auf der Mikrochip-Spezialisten aus aller Welt zusammenarbeiten können. Neben Informationen aus der Forschung stellt www.bdd-portal.org den Entwicklern von Software zum Entwurf und zur Analyse von Mikrochips auch Hilfsmittel bereit, um "online" die Korrektheit von neuen Schaltkreis-Entwürfen zu testen.

Zudem können Wissenschaftler auf dem Trierer Internet-Server neun verschiedene Software-Programme nutzen, um computergestützt zum Beispiel Fehler in Schaltkreis-Entwürfen zu finden.

Die Wissenschaftler haben mit Hilfe des elektronischen Agenten "MOPS", einer automatischen Suchmaschine für spezielle Internet-Seiten, bereits über 3.000 wissenschaftliche Abhandlungen über so genannte "binäre Entscheidungsdiagramme" aufgespürt und ins Portal gestellt. Binäre Entscheidungs-Diagramme - englisch abgekürzt mit den Buchstaben BDD - sind eine Datenstruktur, mit der Mikrochips mathematisch simuliert und bearbeitet werden können. Links zu den Internet-Präsenzen von rund 120 aktiven Forschern sollen zudem die internationale Zusammenarbeit in der Chipentwicklung fördern.

"Wir haben uns somit ein virtuelles Labor geschaffen, wo man mit Fach-Kolleginnen und -Kollegen die neuesten Informationen über Forschungsprojekte und -Ergebnisse austauscht, über Konferenzen, Symposien, Workshops und Präsentationen chattet, Industriekontakte knüpft und Vergleiche mit der wissenschaftlichen Arbeit an anderen Forschungs-Standorten zieht", so Professor Christoph Meinel, Direktor des mit der Fraunhofer-Gesellschaft verbundenen Trierer Instituts für Telematik.

Vor allem für die Mikrochip-Hersteller soll das Trierer Portal eine nützliche Einrichtung sein. Sie soll ihnen bei der Begutachtung von neuen Schaltkreis-Entwürfen viel Zeit und Geld sparen können, da Miniaturisierung und explosionsartig zunehmende Komplexität von integrierten Schaltkreisen es für Entwickler immer schwieriger machen, korrekt arbeitende Mikrochips auf den Markt zu bringen. Zudem werden die Entwicklungszyklen durch den Konkurrenzdruck zwischen den Herstellern immer kürzer.

Professor Meinel betont, dass es zu allen aktuellen Prozessoren Listen mit bekannten, aufgetretenen Fehlern gibt, welche die Einsatzfähigkeit der Chips meist nur in geringem Maße mindern. Trotzdem sei es gerade bei sicherheitskritischen Anwendungen in Flug- oder Kraftfahrzeugen wichtig, Hardware-Fehler bereits möglichst früh im Designprozess zu erkennen. "Hierfür bietet unser Portal eine wichtige Unterstützung", unterstreicht Prof. Meinel.