Nahfeldscanner gegen Störungen auf Platinen

Fraunhofer-Projekt für Geräteentwicklung und gegen schwache Chipkarten

Das Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme (ENAS) in Paderborn hat einen neuen Scanner für Elektronik entwickelt, mit dem sich die Strahlung von einzelnen Bauteilen sichtbar machen lässt. Das soll die Entwicklung vereinfachen und im zweiten Schritt auch Chipkarten sicherer machen.

Platine, rechts unten der untersuchte Chip Der Nahfeldscanner des ENAS kann nicht nur komplette Platinen untersuchen, sondern auch die von den Bauteilen abgegebene Strahlung bis auf hundertstel Millimeter genau lokalisieren. ENAS hat dazu zwei Bilder veröffentlicht, die von einem Stück Autoelektronik stammen. Das erste zeigt die gesamte Platine, das zweite einen der Chips darauf.

Strahlung des Chips In Fehlfarben ist dessen Strahlung wiedergegeben, so dass sich erkennen lässt, ob andere Elemente in der Nähe davon betroffen sein können. Frequenzen von 0 bis 6 Gighertz kann das Gerät erfassen. Bis 2,7 GHz klappt das phasenkohärent, so dass sich auch andere Messabstände simulieren lassen. Das dient unter anderem zur Darstellung einer Strahlenkammer, obwohl das Prüfstück nur aus wenigen Millimetern Entfernung abgetastet wurde.

Das französische Partnerinstitut CEA-leti aus Grenoble will den Scanner für eine andere Anwendung erweitern. Mit dem Zusatz soll an das Testobjekt Strahlung angelegt werden, um herauszufinden, wie es auf diese reagiert. Beispielsweise müssen Magnetkarten und RFID-Chips auf elektromagnetische Felder ein bestimmtes Verhalten zeigen, um zu funktionieren.

Das tun diese Bauteile aber nicht nur wie vorgesehen, sie lassen sich damit auch ausforschen und die Sicherheitsmechanismen damit angreifen. Der Nahfeldscanner soll helfen, solche Attacken schon in der Entwicklung zu simulieren, um den Methoden der Kartenknacker vorzubeugen.